แสดงรายการเครื่องมือและบริการทั้งหมด

Transmission electron microscope (TEM)

ยี่ห้อ : FEI ,Model : TECNAI G2 20
ผู้ดูแล : นางสาวกุณช์ธยาน์ ราชพลแสนวงศ์ โทร. 087-068-0025 Email: phikra@kku.ac.th


ใช้ศึกษาโครงสร้างภายในของเซลล์ ถ่ายภาพอินทรียสารและอนินทรียสารในระดับนาโน (>0.1 nm) โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องผ่านเซลล์หรือตัวอย่างที่ต้องการศึกษาซึ่งผู้ศึกษาต้องเตรียมตัวอย่างให้ได้ขนาดบางเป็นพิเศษวางบน grid ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 3.05 mm

หมายเหตุ** ใช้งานนอกเวลาราชการกรุณาติดต่อนักวิทยาศาสตร์ผู้ดูแลเครื่องมือโดยตรง

พร้อมให้บริการ : คณะวิทยาศาสตร์ อาคาร SC.07 ชั้น 1 ห้อง 7102
คู่มือ : ดาวน์โหลดคู่มือ
ค่าบริการ(ภายใน) : ค่าวิเคราะห์ด้วย TEM และ EDX (ในเวลาราชการ)/ ครั้ง = 1800 บาท
ค่าบริการ(ภายนอก) : ค่าวิเคราะห์ด้วย TEM และ EDX (ในเวลาราชการ)/ ครั้ง = 3500 บาท
จองเครื่องมือ คำนวนราคา ตีพิมพ์ในวารสาร ความสามารถ การซ่อม ถามตอบ

Scanning electron microscope (SEM)

ยี่ห้อ : LEO ,Model : 1450 CARL ZEISS CO LTD
ผู้ดูแล : อกนิษฐ์ สันธินาค เมล์ aganis.su@kkumail.com หรือเบอร์โทร 0927829658

รอครุภัณฑ์ทดแทน อยู่ระหว่างการจัดซื้อ ตรวจรับ


ศึกษาลักษณะของผิววัตถุโดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุทำให้ได้ภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติถ่ายภาพอินทรียสารและอนินทรียสารในระดับนาโน (>10 nm) มีกําลังขยายสูงถึง 200,000 เท่าใช้ศึกษาโครงสร้างบริเวณชั้นผิวของตัวอย่างรองรับงานในการศึกษาสภาพพื้นผิวของตัวอย่างทางกายภาพ ติดตั้งอุปกรณ์เพิ่มเติม อาทิเช่น Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy เพื่อใช้วิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมีของวัสดุ


คณะวิศวกรรมศาสตร์อาคาร EN08 ชั้น 1 ห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์แบบส่องกราด

พร้อมให้บริการ : คณะวิศวกรรมศาสตร์ ภาควิศวกรรมอุตสาหการ ห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์แบบส่องกราด หมายเหตุ* กรุณาติดต่อนักวิทยาศาสตร์ ก่อนทำการจองใช้เครื่องผ่านระบบ"""
คู่มือ : ดาวน์โหลดคู่มือ
ค่าบริการ(ภายใน) : ภายในมหาวิทยาลัย ค่าวิเคราะห์ด้วย SEM /ชั่วโมง ค่าบริการเคลือบทอง (สำหรับตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้า) /ครั้ง = 300 บาท = 600 บาท
ค่าบริการ(ภายนอก) : ค่าวิเคราะห์ด้วย SEM /ชั่วโมง ค่าบริการเคลือบทอง (สำหรับตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้า) /ครั้ง = 300 บาท = 1200 บาท
คำนวนราคา ตีพิมพ์ในวารสาร ความสามารถ การซ่อม ถามตอบ

Atomic force microscope (AFM)

ยี่ห้อ : PARK ,Model : XE-120
ผู้ดูแล : นางสาวสาวิณี นาสมภักดิ์ sawina@kku.ac.th โทร 0942891461/ ดร.อภิโชค ตั้งตระการ Email:nateta@kku.ac.th 08-3142-1085

ถ่ายภาพพื้นผิวในระดับนาโน ใช้ศึกษาพันธะที่มีความแข็งแรงสูงถึงพันธะโควาเลนต์ ทั้งภายในและระหว่างโมเลกุล โดยเฉพาะ pulling experiment ในชีวโพลิเมอร์เช่น คาร์โบไฮเดรต โปรตีน และกรดนิวคลีอิก มี Jumping mode ใช้ในการวัดตัวอย่างทางชีววิทยาที่อยู่ในของเหลว สามารถวิเคราะห์คุณสมบัติพื้นฐานของพื้นผิวอย่าง เช่น ความนาไฟฟ้า ความแข็งได้

*** ผู้ขอใช้บริการจะต้องจัดหา Cantilever หรือ tip เอง ซึ่งจะต้องเหมาะสมกับตัวอย่าง โดยอาจจะปรึกษากับอาจารย์หรือนักวิทยาศาสตร์ผู้ดูแลเครื่องมือ***

**หมายเหตุ**
1. กรณีที่เป็นสารแม่เหล็ก และสารที่เปียกชื้นต้องปรึกษาอาจาร์ยผู้ดูแลเครื่องก่อนใช้เท่านั้นเพราะทำให้เครื่องเสียหายได้
2. เครื่อง AFM จะไม่มีการเปิดให้บริการโหมดพิเศษ สำหรับวัสดุหรือโพลิเมอร์ที่มีความแข็งมาก เนื่องจากอาจทำให้ระบบการสแกนเสียหายได้ง่าย 
3. ไม่สามารถใช้กับสารที่ไม่ถูกตรึงอยู่กับที่ได้

พร้อมให้บริการ : คณะวิทยาศาสตร์ อาคาร 1 ชั้น 1 ห้องปฏิบัติการวิทยาศาสตร์""
คู่มือ : ดาวน์โหลดคู่มือ
ค่าบริการ(ภายใน) : ภายในมหาวิทยาลัย ค่าใช้บริการ AFM / ครั้ง = 1500 บาท
ค่าบริการ(ภายนอก) : ค่าใช้บริการ AFM / ครั้ง = 3000 บาท
จองเครื่องมือ คำนวนราคา ตีพิมพ์ในวารสาร ความสามารถ การซ่อม ถามตอบ

เครื่องตรวจวิเคราะห์ตัวอสุจิด้วยระบบคอมพิวเตอร์

ยี่ห้อ : Hamilton Thorne ,Model : CEROS II
ผู้ดูแล : นางสาวณัฐญา ดวงหะคลัง เบอร์โทร 0944165324 อีเมล d.natthaya96@gmail.com

ใช้เพื่อตรวจวิเคราะห์ การเคลื่อนไหว (Motility) รายงานผลการนับ (Total count) ความเข้มข้น(Concentration) ลักษณะการเคลื่อนที่ (Progressive Motility) ของอสุจิในน้ำเชื้อของสัตว์  เพื่อรายงานผลและเพื่อการเก็บข้อมูล

พร้อมให้บริการ : ห้องปฏิบัติการวิจัยปรับปรุงพันธ์สัตว์ ตึกอุทยานวิทยาศาสตร์ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ ชั้น 4
คู่มือ : ดาวน์โหลดคู่มือ
จองเครื่องมือ คำนวนราคา ตีพิมพ์ในวารสาร ความสามารถ การซ่อม ถามตอบ

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดพร้อมอุปกรณ์โฟกัสไออนบีม

ยี่ห้อ : FEI ,Model : Helios NanoLab G3 CX
ผู้ดูแล : นายศักดิ์สิทธิ์ สุวรรณ์ อีเมล์ sakssu@kku.ac.th เบอร์ 0895766004

Field Emission Scanning Electron Microscopy (FESEM) และ ระบบ Focus Ion Beam (Focus Ion Beam : FIB)
FESEM สามารถถ่ายภาพด้วยกำลังขยายสูงด้วยโหมด Secondary Electron (SE) และสามารถถ่ายภาพด้วยกำลังขยายสูงด้วยโหมด Back-scatter Electron (BSE)
EDS สามารถวิเคราะห์หาองค์ประกอบของธาตุ ด้วยรูปแบบต่าง ๆ เช่น Mapping, Point and ID, Line Scan
FIB ขุดเจาะตัวอย่างเพื่อถ่ายภาพ Cross section การขึ้นรูป 3 มิติ และการเตรียมตัวอย่างสำหรับเครื่อง TEM (TEM Lamela)

หมายหตุ: อัตราค่าบริการ ให้อ้างอิงจากประกาศคณะวิทยาศาสตร์  3346/2562 อัตราค่าบริการตรวจวิเคราะห์และบริการเครื่องมือคณะวิทยาศาสตร์ ลำดับที่ 26. 

อัตราค่าบริการ*** ส่วนเพิ่มเติม
การฉาบด้วยผิวทองคำ (Coat ทอง)                                            การทำตัวอย่างแห้งที่จุดวิกฤต 
ภายในคณะวิทยาศาสตร์ มข. 200 บาท                                       ภายในคณะวิทยาศาสตร์ มข.  400 บาท
ภายในมหาวิทยาลัยขอนแก่น  400 บาท                                      ภายในมหาวิทยาลัยขอนแก่น   800 บาท 
ภายนอก/เอกชน  600 บาท                                                      ภายนอก/เอกชน  1200 บาท


 

พร้อมให้บริการ : คณะวิทยาศาสตร์ ตึก SC01 (ตึกเคมี) ชั้น1 ห้อง 1137 ""
คู่มือ : ดาวน์โหลดคู่มือ
ค่าบริการ(เอกชน) : = 3000 บาท
จองเครื่องมือ คำนวนราคา ตีพิมพ์ในวารสาร ความสามารถ การซ่อม ถามตอบ