รายการเครื่องมือและบริการทั้งหมด
1. กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดพร้อมอุปกรณ์โฟกัสไออนบีม (FESEM & FIBSEM)
ยี่ห้อ :
FEI ,Model : Helios NanoLab G3 CX
ผู้ดูแล : นายศักดิ์สิทธิ์ สุวรรณ์ โทร.0895766004 อีเมล์ sakssu@kku.ac.th
Field Emission Scanning Electron Microscopy (FESEM) และ ระบบ Focus Ion Beam (Focus Ion Beam : FIB)
FESEM สามารถถ่ายภาพด้วยกำลังขยายสูงด้วยโหมด Secondary Electron (SE) และสามารถถ่ายภาพด้วยกำลังขยายสูงด้วยโหมด Back-scatter Electron (BSE)
EDS สามารถวิเคราะห์หาองค์ประกอบของธาตุ ด้วยรูปแบบต่าง ๆ เช่น Mapping, Point and ID, Line Scan
FIB ขุดเจาะตัวอย่างเพื่อถ่ายภาพ Cross section การขึ้นรูป 3 มิติ และการเตรียมตัวอย่างสำหรับเครื่อง TEM (TEM Lamela)
อัตราค่าธรรมเนียม
| รายการ | ภายใน มข. | สถานศึกษาภายนอก | เอกชน/รัฐวิสาหกิจ |
| การถ่ายภาพด้วย SEM, การวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS, การใช้งาน FIB (เหมาจ่าย บาท/ชม.) | 1,200 | 1,800 | 3,000 |
| การฉาบด้วยผิวทองคำ (Coat ทอง) (บาท/ครั้ง) | 200 | 400 | 600 |
| การทำตัวอย่างแห้งที่จุดวิกฤต (บาท/ครั้ง) | 400 | 800 | 1,200 |
อ้างอิงจาก: ประกาศ มข ฉบับที่ 1076/2565 เรื่อง อัตราค่าธรรมเนียมการใช้บริการเครื่องมือวิจัยของศูนย์เครื่องมือวิจัย มหาวิทยาลัยขอนแก่น