รายการเครื่องมือและบริการทั้งหมด
1. Atomic force microscope (AFM)
ยี่ห้อ :
PARK ,Model : XE-120
ผู้ดูแล : นางสาวสาวิณี นาสมภักดิ์ โทร 0942891461 sawina@kku.ac.th ดร.อภิโชค ตั้งตระการ Email:nateta@kku.ac.th 08-3142-1085
ถ่ายภาพพื้นผิวในระดับนาโน ใช้ศึกษาพันธะที่มีความแข็งแรงสูงถึงพันธะโควาเลนต์ ทั้งภายในและระหว่างโมเลกุล โดยเฉพาะ pulling experiment ในชีวโพลิเมอร์เช่น คาร์โบไฮเดรต โปรตีน และกรดนิวคลีอิก มี Jumping mode ใช้ในการวัดตัวอย่างทางชีววิทยาที่อยู่ในของเหลว สามารถวิเคราะห์คุณสมบัติพื้นฐานของพื้นผิวอย่าง เช่น ความนาไฟฟ้า ความแข็งได้
ประกาศงดให้บริการเครื่อง AFM ชั่วคราว *** Temporary Suspension of AFM Service ***
RIC would like to announce the temporary suspension of the Atomic Force Microscope (AFM) due to a malfunction of the Light Camera system, which prevents proper sample visualization and makes the analysis impossible to perform accurately.
We are currently coordinating with the service provider for repair and parts replacement. The instrument is expected to resume service around February 2026. We apologize for the inconvenience and will provide updates once available.
*** ผู้ขอใช้บริการจะต้องจัดหา Cantilever หรือ tip เอง ซึ่งจะต้องเหมาะสมกับตัวอย่าง โดยอาจจะปรึกษากับอาจารย์หรือนักวิทยาศาสตร์ผู้ดูแลเครื่องมือ***
**หมายเหตุ**
**หมายเหตุ**
1. กรณีที่เป็นสารแม่เหล็ก และสารที่เปียกชื้นต้องปรึกษาอาจารย์ผู้ดูแลเครื่องก่อนใช้เท่านั้นเพราะทำให้เครื่องเสียหายได้
2. เครื่อง AFM จะไม่มีการเปิดให้บริการโหมดพิเศษ สำหรับวัสดุหรือโพลิเมอร์ที่มีความแข็งมาก เนื่องจากอาจทำให้ระบบการสแกนเสียหายได้ง่าย
3. ไม่สามารถใช้กับสารที่ไม่ถูกตรึงอยู่กับที่ได้
อัตราค่าธรรมเนียม
รายการ ภายในมข. สถานศึกษาภายนอก เอกชน/รัฐวิสาหกิจ
ค่าวิเคราะห์ด้วยกล้องAFM (บาท/ครั้ง) 1,500 3,000 3,000