กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านชนิดฟิลด์อีมิสชัน สามารถตรวจวิเคราะห์โครงสร้างของเซลล์
สารอนินทรีย์ และสารอินทรีย์ได้ถึงระดับนาโน (≥0.1 nm) โดยลำอิเล็กตรอนจะส่องผ่านเซลล์หรือตัวอย่างที่ต้องการศึกษา ซึ่งผู้ศึกษาต้องเตรียมตัวอย่างให้ได้ขนาดบางเป็นพิเศษวางบน grid ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 3.05 mm
โดย TEM มีฟังก์ชันการทำงานดังนี้
1. Bright field image
2. SAED (Selected Area Electron Diffraction)
3. STEM mapping
4. วิเคราะห์ธาตุด้วย EDS (Energy Dispersive x-ray spectroscopy)
5. Tomography
หมายเหตุ** ใช้งานนอกเวลาราชการกรุณาติดต่อนักวิทยาศาสตร์ผู้ดูแลเครื่องมือโดยตรง
อัตราค่าธรรมเนียม
รายการ | ภายใน | ภายนอก | เอกชน |
ค่าใช้เครื่อง FE-TEM | 2,000/ชม. | 3,000/ชม. | 3,000/ชม. |
ค่า C-CU grid | 200/ชิ้น | 200/ชิ้น | 200/ชิ้น |
ค่าเตรียมตัวอย่างแบบผง | 500/ครั้ง | 500/ครั้ง | 500/ครั้ง |